更新時(shí)間：2024-09-12
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,綜合 |
泰勒霍普森、粗糙度儀DUO
泰勒霍普森便攜式儀器SURTRONIC DUO粗糙度測(cè)量儀
型號(hào)：SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng)：探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測(cè)量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm
數(shù)據(jù)傳輸類型：USB
英國泰勒霍普森粗糙度測(cè)量裝置SURTRONIC DUO，具有內(nèi)部進(jìn)料單元的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置，小巧便攜，通用功能，用戶友好的界面，適合地板等表面粗糙度測(cè)量。
應(yīng)用：
用戶友好的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置，用于參數(shù)Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測(cè)量。
蘇公網(wǎng)安備32021402002648
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